Fe-Scanning Electron Microscope (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด)
 

คุณสมบัติของเครื่อง

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดที่มีสมรรถนะสูงชนิดฟิลด์อิมิสชั่น (Fe-Scanning Electron Microscope, Fe-SEM) มีกำลังขยายภาพอย่างน้อย 1,000,000 เท่า, สามารถปรับตั้งค่า Accelerating Voltage ได้ถึง 30 kV มี Mode และ ตัวรับสัญญาณ (Detector) ดังรายเอียดต่อไปนี้

Mode

ตัวอย่างที่เหมาะสม

Detector

High Vacuum

แห้ง นำไฟฟ้า ต้องการกำลังขยายสูง เช่น เหล็ก

- ETD (SE)
- BSE

Low Vacuum

แห้ง ไม่นำไฟฟ้า เช่น พืช สัตว์

- LFD (SE)
- BSE

ESEM (Cooling state)

ชื้น ของเหลว ต้องการคงสภาพ เช่น งานจุลชีพ

- GSED

ESEM (Heating state)

ดูจุดหลอมเหลวไม่เกิน 1000oC

- LFD

STEM / WetSTEM

ส่องผ่าน (ตัวอย่างนำไฟฟ้า/ไม่นำไฟฟ้า)

-STEMII

EDX (วิเคราะห์หาธาตุในตัวอย่าง)

สามารถวิเคราะห์ธาตุตั้งแต่เลขอะตอม 4 (Beryllium: Be) ถึง 92 (Uranium: U)

- X-Ray


ห้องปฏิบัติการ

ห้องปฏิบัติการกล้องจุลทรรศน์อิเล็คตรอนแบบส่องกราด

ยี่ห้อ / รุ่น

FEI / FEG Quanta 450

     
กลุ่มภารกิจบริหารจัดการศูนย์เครื่องมือกลาง สถาบันวิจัยและพัฒนา มหาวิทยาลัยทักษิณ
เลขที่ 222 หมู่ 2 ต.บ้านพร้าว อ.ป่าพะยอม จ.พัทลุง 93210
Email: rec.rditsu@gmail.com โทรศัพท์ 081-540-7304